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波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀的X光管
發(fā)布時(shí)間:2024-04-08

X光管是波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀(WD-XRF)最核心的部件之一,影響光管性能的主要參數(shù)有功率、電壓、電流、鈹窗膜厚度、陽(yáng)極靶材、陰極燈絲等,其性能很大程度影響了儀器的最終性能。在高壓下,電子從燈絲表面逸出,并在電場(chǎng)作用下打到陽(yáng)極靶材上,激發(fā)出初級(jí)X射線(xiàn)。在這個(gè)過(guò)程中,電子動(dòng)能...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-05-15

    ROHS測(cè)試分析儀在電子電氣產(chǎn)品有害物質(zhì)檢測(cè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。然而,在使用過(guò)程中,儀器也可能會(huì)出現(xiàn)一些常見(jiàn)故障,了解這些故障及相應(yīng)的維護(hù)技巧對(duì)于保證儀器的正常運(yùn)行至關(guān)重要。信號(hào)不穩(wěn)定是ROHS測(cè)試分析儀常見(jiàn)的故障之一。這可能是由于儀器內(nèi)部的電路連接松動(dòng)或者外部干擾所導(dǎo)致。當(dāng)出現(xiàn)這種情況時(shí),首先要檢查儀器的電源連接是否穩(wěn)固,各個(gè)接口處的連接是否緊密。同時(shí),要注意避免儀器附近有強(qiáng)電磁干擾源,若有必要,可對(duì)儀器進(jìn)行屏蔽防護(hù)。測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確也是可能遇到的問(wèn)題。這往往與儀器的校準(zhǔn)有關(guān)...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-05-07

    全元素分析儀(ROHS檢測(cè)儀)用于檢測(cè)電子電氣產(chǎn)品中鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr??)、多溴聯(lián)苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)等有害物質(zhì)含量,確保產(chǎn)品符合環(huán)保法規(guī)。以下是其使用指引及關(guān)鍵操作步驟:一、操作前準(zhǔn)備儀器檢查確認(rèn)儀器外觀(guān)無(wú)損壞,電源線(xiàn)、數(shù)據(jù)線(xiàn)連接穩(wěn)固。檢查X射線(xiàn)管、探測(cè)器窗口是否清潔,無(wú)遮擋或異物。確保測(cè)試環(huán)境無(wú)強(qiáng)電磁干擾,溫度15-30℃,濕度≤80%。開(kāi)機(jī)預(yù)熱開(kāi)啟儀器電源,啟動(dòng)分析軟件,預(yù)熱30分鐘(部分型號(hào)需1小時(shí)),確保X射線(xiàn)管穩(wěn)定。...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-04-10

    手持式X熒光分析儀是一種基于X射線(xiàn)熒光(XRF)光譜分析技術(shù)的便攜式分析設(shè)備,廣泛應(yīng)用于材料成分分析、地質(zhì)勘探、環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域。儀器內(nèi)置的X射線(xiàn)管發(fā)射初級(jí)X射線(xiàn),照射到樣品表面后,樣品中的原子被激發(fā)并產(chǎn)生特征X射線(xiàn)熒光。探測(cè)器捕捉熒光信號(hào),通過(guò)能量色散或波長(zhǎng)色散技術(shù)將信號(hào)轉(zhuǎn)換為光譜,再利用算法解析光譜,確定樣品中元素的種類(lèi)和含量。一、技術(shù)特點(diǎn):便攜性:體積小、重量輕,便于現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)。多元素分析:可同時(shí)檢測(cè)多種元素,覆蓋周期表中的輕元素(如鎂、鋁)到重元素(如鉛、鈾...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-03-19

    鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量金屬或其他材料表面鍍層厚度的儀器,廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域。鍍層測(cè)厚儀通過(guò)不同的物理原理來(lái)測(cè)量涂層的厚度,常見(jiàn)的原理包括磁性感應(yīng)原理、渦流原理和X射線(xiàn)熒光原理。磁性感應(yīng)原理適用于測(cè)量非磁性涂層在磁性基材上的厚度,渦流原理適用于測(cè)量導(dǎo)電性涂層在導(dǎo)電性基材上的厚度,X射線(xiàn)熒光原理則通過(guò)測(cè)量被激發(fā)出的熒光X射線(xiàn)的能量和強(qiáng)度來(lái)確定鍍層的元素組成和厚度。1、磁性感應(yīng)原理:利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。覆層越厚,則磁阻...

  • 發(fā)布時(shí)間:2025-03-15

    國(guó)產(chǎn)固定道WDXRF與進(jìn)口WDXRF在硅基材料分析中的對(duì)比與應(yīng)用推薦波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(WavelengthDispersiveX-rayFluorescence,WDXRF)是一種廣泛應(yīng)用于材料分析的技術(shù),尤其在硅基材料(如半導(dǎo)體、玻璃、硅片等)中具有重要作用。進(jìn)口WDXRF設(shè)備雖然在性能上表現(xiàn)優(yōu)異,但成本較高,而國(guó)產(chǎn)固定道WDXRF近年來(lái)發(fā)展迅速,在許多應(yīng)用場(chǎng)景中已能滿(mǎn)足實(shí)際需求。本文通過(guò)對(duì)比國(guó)產(chǎn)固定道WDXRF與進(jìn)口WDXRF,在硅基材料分析中的性能表現(xiàn),并結(jié)合實(shí)...

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